一项新研究表明，那些用于寻找与疾病相关基因的普通DNA测试，可能会遗漏关键的遗传风险指标。

DNA检测时使用的全外显子组测序技术仅对蛋白质编码区进行测序，而不是整个基因组，该技术省时间省金钱，已被用于许多研究中，从而能确定与疾病相关的基因，并通过临床实验室诊断出遗传性疾病患者。

然而一项新研究表明，这些测序通常会错过基因组致病基因的子集突变，这是由于为了节约成本，这些区域读取的次数较少。

研究人员发现了832个在测序平台上低覆盖率的基因。这些基因与白血病、牛皮癣、心力衰竭等疾病有关，可能导致相关疾病的研究人员在研究过程中错过了这些基因。

宾州州立大学助理教授Santhosh Girirajan表示：“虽然都知道在全外显子组测序的覆盖范围内，对测序期间给定DNA片段的平均读取次数是不均匀的，但这是第一个真正量化DNA检测的新方法。”

研究人员开发出了两种识别全外显子组序列低覆盖率区域的方法，打包成一个开源软件供其他研究人员使用。

全外显子组测序技术可能会因为某些染色体特征导致精度有限，从而导致低覆盖率。在ATCG四种脱氧核糖核苷酸多次重复的高度延伸区域，测序仪会无法正确地读取DNA。事实上，研究显示60%的低覆盖率区域都出现在重复的基因序列附近。

比如与非重复序列相比，含有重复序列的MAST4基因的覆盖率少了3倍。

其中一个解决方案是对DNA的所有碱基对进行检查，而不是只检测包含基因的区域。研究人员发现，比起全外显子组，全基因组的覆盖率出现低覆盖率的情况明显更少，而且其覆盖范围内的分布一致性更好。但是同时，全外显子测序的成本，还是明显低于全基因组测序的成本。

出生缺陷基金会，美国国立卫生研究院，大脑行为研究基金会，宾州哈克生命科学研究院，宾州科学实验站资助了此研究。